第一章 數(shù)字邏輯電路實(shí)驗導(dǎo)論
1.1 序論
1.2 實(shí)驗的有關(guān)規(guī)定
1.2.1 實(shí)驗要求
1.2.2 實(shí)驗操作要求
1.2.3 實(shí)驗室管理要求
1.3 正確地撰寫實(shí)驗報告
1.3.1 實(shí)驗報告的內(nèi)容
1.3.2 實(shí)驗報告的例子
1.4 數(shù)字電路實(shí)驗基礎(chǔ)知識
1.4.1 數(shù)字集成電路的分類及主要參數(shù)
1.4.2 TTL與CMOS數(shù)字集成電路使用注意事項


第二章 數(shù)字邏輯電路實(shí)驗部分
實(shí)驗一 邏輯門電路測試之一
實(shí)驗二 邏輯門電路測試之二
實(shí)驗三 單穩(wěn)態(tài)電路與無穩(wěn)態(tài)電路
實(shí)驗四 晶體振蕩器
實(shí)驗五 組合邏輯電路的應(yīng)用
實(shí)驗六 計數(shù)器和脈寬測量
實(shí)驗七 同步時序系統(tǒng)設(shè)計
實(shí)驗八 單次觸發(fā)的異步時序邏輯系統(tǒng)設(shè)計
實(shí)驗九 程序控制反饋移位寄存器
實(shí)驗十 m序列
實(shí)驗十一 數(shù)字鎖相環(huán)
實(shí)驗十二 模數(shù)和數(shù)模轉(zhuǎn)換
實(shí)驗十三 同步時序系統(tǒng)設(shè)計仿真
實(shí)驗十四 程序控制反饋移位寄存器仿真


第三章 可編程邏輯器件GAL及ABEL語言
3.1 概述
3.2 可編程邏輯器件概述
3.2.1 可編程邏輯器件簡介
3.2.2 實(shí)現(xiàn)編程的工藝
3.2.3 PLD的開發(fā)過程
3.3 PAL的基本電路
3.3.1 組合邏輯PAL
3.3.2 有寄存器的PAL
3.3 3利用PAL設(shè)計電路的過程
3.3.4 器件的工業(yè)型號
3.3.5 PAL的封裝
3.4 GAL的基本電路--帶有結(jié)構(gòu)編程的PAL
3.4.1 從PAL發(fā)展到GAL--通用型PAL
3.4.2 16V8型和20V8型GAL
3.4.3 GAL器件簡介
3.5 GAL(PAL)的編程
3.5.1 可編程單元的代碼
3.5.2 熔絲圖文件與JEDEC文件
3.5.3 GAL的編程過程
3.5.4 在線可編程GAL-ispGAL16Z8
3.6 ABEL軟件簡介
3.6.1 ABEL軟件的功能
3.6.2 ABEL軟件的運(yùn)行
3.6.3 設(shè)計文件(源文件)的格式
3.6.4 設(shè)計文件舉例及幾種語句與符號
3.7 DECLARATIONS(定義段)語句
3.7.1 器件定義語句
3.7.2 引腳定義語句
3.7.3 節(jié)點(diǎn)定義語句
3.7.4 常量定義語句
……
參考書目
附錄