書(shū)單推薦
更多
新書(shū)推薦
更多

輸運(yùn)問(wèn)題的隨機(jī)模擬

輸運(yùn)問(wèn)題的隨機(jī)模擬

定  價(jià):398 元

        

  • 作者:鄧力著
  • 出版時(shí)間:2025/4/1
  • ISBN:9787569323498
  • 出 版 社:西安交通大學(xué)出版社
  • 中圖法分類:TL1 
  • 頁(yè)碼:719頁(yè)
  • 紙張:
  • 版次:1
  • 開(kāi)本:21cm
9
7
3
8
2
7
3
5
4
6
9
9
8
本書(shū)系統(tǒng)地介紹MC方法發(fā)展歷程及其在核科學(xué)工程領(lǐng)域的應(yīng)用。全書(shū)分上、下兩篇,共20章,其中上篇理論部分11章,介紹MC方法基本原理、隨機(jī)抽樣算法、Boltzmann輸運(yùn)方程的MC求解、中子光子核反應(yīng)過(guò)程、帶電粒子輸運(yùn)的模擬等;下篇應(yīng)用部分共9章,內(nèi)容包括探測(cè)器響應(yīng)函數(shù)計(jì)算、燃耗計(jì)算、核-熱耦合計(jì)算等。與之前出版的專著相比,理論部分去掉了概率論預(yù)備知識(shí),增加了帶電粒子輸運(yùn)等內(nèi)容。應(yīng)用部分增加了多物理耦合計(jì)算,輻射屏蔽、反應(yīng)堆堆芯及核探測(cè)等內(nèi)容。
 你還可能感興趣
 我要評(píng)論
您的姓名   驗(yàn)證碼: 圖片看不清?點(diǎn)擊重新得到驗(yàn)證碼
留言內(nèi)容