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試驗設(shè)計及最優(yōu)化(鐵軍)

試驗設(shè)計及最優(yōu)化(鐵軍)

定  價:68 元

        

  • 作者:鐵軍、李純 編著
  • 出版時間:2025/4/1
  • ISBN:9787122477583
  • 出 版 社:化學工業(yè)出版社
  • 中圖法分類:O212.6 
  • 頁碼:319
  • 紙張:
  • 版次:01
  • 開本:16開
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讀者對象:本書可作為材料、化工、冶金、機械及相關(guān)工程專業(yè)的本科生或研究生教材,也可供科研和工程技術(shù)人員參考使用。

《試驗設(shè)計及最優(yōu)化》以方差分析、回歸分析原理及應用為基礎(chǔ),系統(tǒng)介紹了完全析因設(shè)計、部分析因設(shè)計、響應曲面設(shè)計、混料設(shè)計和計算機試驗設(shè)計等方法的基本原理,并通過實際案例演示 JMP 軟件中試驗設(shè)計、數(shù)據(jù)分析及優(yōu)化方法的具體實現(xiàn),旨在幫助讀者在理解基本原理的同時,快速掌握相關(guān)軟件,并應用科學與工程研究中。
本書可作為材料、化工、冶金、機械及相關(guān)工程專業(yè)的本科生或研究生教材,也可供科研和工程技術(shù)人員參考使用。
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