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芯片封測從入門到精通

芯片封測從入門到精通

定  價:69 元

        

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  • 作者:江一舟 著
  • 出版時間:2024/4/1
  • ISBN:9787301349069
  • 出 版 社:北京大學出版社
  • 中圖法分類:TN43 
  • 頁碼:256
  • 紙張:
  • 版次:1
  • 開本:16開
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讀者對象:普通讀者

芯片封測是指芯片的封裝和測試,當芯片設計和制作完成后,需要進行封裝和測試。封裝類似于給芯片穿上堅固的防護外衣,使其可以在復雜的環(huán)境下工作,也可以保護芯片,便于散熱。測試即檢測芯片的好壞,同時檢查相關工藝環(huán)節(jié)所帶來的影響。 本書分為12章,第1章簡要介紹了芯片封測的概念和流程;第2章介紹了晶圓測試,包括檢測芯片的功能和晶圓的制造工藝;第3~8章重點介紹了傳統(tǒng)芯片封裝的工藝流程和原理;第9~10章主要介紹了先進封裝及載帶焊接技術;第11章介紹了最終測試,檢測芯片的最終功能及封裝環(huán)節(jié)所帶來的影響;第12章介紹了芯片封測的相關系統(tǒng)及數(shù)據(jù)異常分析。 本書涉及傳統(tǒng)芯片封裝測試的所有流程,敘述通俗易懂,并輔以大量的圖示,既可以作為微電子或集成電路專業(yè)的參考用書,也可以作為封裝測試公司新員工的培訓用書,還可以作為半導體初學者和愛好者的學習用書。
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