本書的前半部分介紹了離子遷移譜技術(shù)的基本原理、發(fā)展歷程，對(duì)離子遷移譜中的關(guān)鍵部件、關(guān)鍵參數(shù)的設(shè)計(jì)方法進(jìn)行了系統(tǒng)論述，然而隨著技術(shù)的進(jìn)步，不同的應(yīng)用場(chǎng)合對(duì)離子遷移譜的基本參數(shù)要求有很大的不同，本書的后半部分從應(yīng)用出發(fā)針對(duì)不同的應(yīng)用場(chǎng)合討論了具體的實(shí)現(xiàn)方法，并對(duì)離子遷移譜的發(fā)展前景進(jìn)行了展望。本書意在為從事離子遷移譜開(kāi)發(fā)的專業(yè)人士提供理論支撐。