第1章 半導體二極管及其基本電路
1．1 半導體基礎知識
1．1．1 半導體材料
1．1．2 PN結及其單向導電性
1．2 半導體二極管及其特性
1．2．1 二極管的結構與符號
1．2．2 二極管的伏安特性
1．2．3 二極管的主要參數(shù)
1．3 特殊二極管
1．3．1 穩(wěn)壓二極管
1．3．2 發(fā)光二極管
1．3．3 光電二極管
實驗訓練1半導體二極管單向導電性的測試

第2章 半導體三極管及其放大電路
2．1 半導體三極管
2．1．1 三極管的結構與圖形符號
2．1．2 三極管的電流放大作用
實驗訓練2半導體三極管各極電流分配關系的測試
2．1．3 三極管的特性曲線
2．1．4 三極管的主要參數(shù)
2．2 放大電路的性能指標
2．2．1 放大倍數(shù)
2．2．2 輸入電阻
2．2．3 輸出電阻
實驗訓練3共射基本放大電路性能指標的測試
2．3 共發(fā)射極放大電路
2．3．1 共發(fā)射極放大電路的組成
2．3．2 放大電路的基本分析方法
2．4 靜態(tài)工作點穩(wěn)定的放大電路
2．4．1 溫度對靜態(tài)工作點的影響
2．4．2 分壓式偏置電路
實驗訓練4分壓式偏置電路工作點穩(wěn)定性的測試
2．5 共集電極和共基極放大電路
2．5．1 共集電極放大電路
實驗訓練5共集電極放大電路基本特性的測試
2．5．2 共基極放大電路
2．6 多級放大電路
2．6．1 多級放大電路的耦合方式
2．6．2 多級放大電路的性能分析
2．7 反饋放大電路
2．7．1 反饋的基本概念
2．7．2 反饋類型的判斷方法
2．7．3 反饋放大電路的分析
2．7．4 負反饋對放大電路性能的影響
實驗訓練6負反饋放大電路放大倍數(shù)穩(wěn)定性的測試

第3章 場效應管及其放大電路
3．1 場效應管概述
3．2 結型場效應管（JFET）
3．2．1 JFET的結構和工作原理
3．2．2 JFET的特性曲線
3．2．3 JFET的主要參數(shù)
實驗訓練7JFET各電壓與電流關系的測試
3．3 金屬-氧化物-半導體場效應管（MOSFET）
3．3．1N溝道增強型MOSFET
3．3．2N溝道耗盡型MOSFET
3．4 場效應管放大電路
3．4．1 場效應管基本放大電路的組成
3．4．2 分壓式偏置電路

第4章 集成運算放大器及其應用
4．1 集成運算放大器簡介
4．1．1 集成運算放大器基本結構
4．1．2 集成運放的符號
4．1．3 集成運放的主要性能指標
4．1．4 集成運放的電壓傳輸特性
4．1．5 理想集成運放
4．2 集成運放的線性應用
實驗訓練8集成運放加法電路的測試
實驗訓練9集成運放減法電路的測試
4．3 集成運放的非線性應用電路

第5章 低頻功率放大電路
5．1 概述
5．1．1 功率放大電路的特點
5．1．2 功率放大器的分類
5．2 乙類互補對稱功率放大電路
5．2．1 互補對稱功放電路的組成和原理
5．2．2 互補對稱功放電路分析
5．2．3 消除交越失真的互補對稱電路
實驗訓練10低頻功率放大器的測試
5．3 集成功率放大器的應用

第6章 直流穩(wěn)壓電源
6．1 直流穩(wěn)壓電源的組成和作用
6．2 整流電路
6．2．1 半波整流電路
6．2．2 全波橋式整流電路
6．3 濾波電路
6．3．1 電容濾波電路
6．3．2 電感濾波電路
6．3．3 其他濾波電路
6．4 穩(wěn)壓電路
6．4．1 硅穩(wěn)壓二極管穩(wěn)壓電路
6．4．2 串聯(lián)反饋式穩(wěn)壓電路
6．4．3 三端集成穩(wěn)壓器
實驗訓練11三端式穩(wěn)壓器電路的測量

第7章 數(shù)字邏輯基礎
7．1 數(shù)字電路概述
7．1．1 數(shù)字信號與模擬信號
7．1．2 數(shù)字技術和數(shù)字系統(tǒng)
7．2 數(shù)制與編碼
7．2．1 數(shù)制
7．2．2 數(shù)制間轉換
7．2．3 編碼
7．3 邏輯代數(shù)運算
7．3．1 邏輯代數(shù)基本運算
7．3．2 邏輯代數(shù)復合運算
7．3．3 基本門電路應用舉例——簡易火警報警器
7．4 邏輯代數(shù)的數(shù)學描述
7．4．1 邏輯代數(shù)的公式與定律
7．4．2 邏輯代數(shù)的基本運算規(guī)則
7．5 邏輯函數(shù)化簡
7．5．1 邏輯函數(shù)表達式
7．5．2 邏輯函數(shù)的公式法化簡
7．5．3 邏輯函數(shù)的卡諾圖化簡
7．6 邏輯函數(shù)的描述方法及轉換
7．6．1 邏輯函數(shù)的描述方法
7．6．2 幾種描述方法之間的轉換
實驗訓練12常用儀器的使用及與非門的功能測試

第8章 邏輯門電路
8．1 TTL集成邏輯門電路
8．1．1 TTL與非門
8．1．2 其他類型的TTL門電路
8．2 CMOS集成門電路
8．2．1 CMOS門電路
8．2．2 其他類型的CMOS門電路
8．3 集成門電路的使用
8．3．1 TTL門電路的使用
8．3．2 CMOS門電路的使用

第9章 組合邏輯電路
9．1 組合邏輯電路的分析與設計方法
9．1．1 組合邏輯電路的分析方法
9．1．2 組合邏輯電路的設計方法
實驗訓練13組合電路設計訓練
9．2 常用組合邏輯電路
9．2．1 編碼器
9．2．2 譯碼器
實驗訓練14中規(guī)模組合邏輯電路設計
實驗訓練15中規(guī)模組合邏輯電路設計二
9．2．3 多路選擇器
9．2．4 多路分配器
實驗訓練16中規(guī)模組合邏輯電路設計三
9．3 組合邏輯電路應用舉例～一八路搶答器
9．4 組合邏輯電路的競爭一冒險現(xiàn)象
9．4．1 競爭-冒險現(xiàn)象及產生原因
9．4．2 競爭-冒險現(xiàn)象的判斷

第10章 時序邏輯電路
10．1 基本概念
10．2 觸發(fā)器
10．2．1 基本RS觸發(fā)器
10．2．2 同步RS觸發(fā)器
10．2．3 邊沿觸發(fā)RS觸發(fā)器
10．2．4 同步D觸發(fā)器
10．2．5 邊沿觸發(fā)的D觸發(fā)器
10．2．6 T觸發(fā)器
10．2．7 邊沿JK觸發(fā)器
實驗訓練17鎖存器、觸發(fā)器邏輯功能測試及相互轉換
10．3 同步時序邏輯電路的分析方法
10．4 同步時序邏輯電路的設計方法
10．5 寄存器
10．5．1 數(shù)碼寄存器
10．5．2 移位寄存器
10．5．3 74LS194移位寄存器及其應用
實驗訓練18移位寄存器的功能測試及應用
10．6 計數(shù)器
10．6．1 常用集成計數(shù)器
10．6．2 計數(shù)器的應用
實驗訓練19用觸發(fā)器設計同步計數(shù)器
實驗訓練20集成計數(shù)器的功能測試及應用

第11章 半導體存儲器與可編程邏輯器件
11．1 存儲器概述
11．2 隨機存取存儲器（RAM）
11．3 只讀存儲器（ROM）
11．4 可編程邏輯器件

第12章 數(shù)模與模數(shù)轉換
12．1 數(shù)模轉換
12．1．1 基本原理
12．1．2 常用的DA轉換方法
12．1．3 數(shù)模轉換器的性能指標
12．1．4 集成DA轉換器DAC0832的應用
12．2 模數(shù)轉換
12．2．1 基本原理
12．2．2 AD轉換器的主要參數(shù)
12．2．3 AD轉換器的常用類型
12．2．4 集成轉換器的應用
實驗訓練21DA轉換器的功能測試及應用
實驗訓練22AD轉換器的功能測試及應用

第13章 綜合技能訓練
13．1 數(shù)字萬用表的使用
13．1．1 數(shù)字萬用表的使用要點
13．1．2 電子元器件的測試
13．2 焊接技術
13．2．1 焊接工具——電烙鐵
13．2．2 電烙鐵使用方法
13．2．3 使用烙鐵進行手工焊接的步驟
13．2．4 對焊點的基本要求
13．2．5 注意事項
13．3 數(shù)字電路的設計與制作
13．3．1 數(shù)字電路的安裝
13．3．2 數(shù)字電路的調試
13．3．3 數(shù)字電路的故障檢測與排除
13．4 數(shù)字鐘設計制作
13．5 數(shù)字頻率計的設計與制作
13．5．1 設計目的要求
13．5．2 設計內容、方法與步驟
參考文獻

附錄
附錄A 半導體器件型號命名方法
附錄B TTL和CMOS邏輯門電路的技術參數(shù)
附錄C 常用數(shù)字邏輯符號對照表
附錄D 常用數(shù)字集成芯片引腳圖