本書是根據(jù)新的學(xué)科專業(yè)目錄對材料科學(xué)與工程、功能材料、新能源材料與器件專業(yè)的課程設(shè)計和教學(xué)內(nèi)容的要求，以及加強教材建設(shè)、編寫面向21世紀優(yōu)秀教材的精神，結(jié)合新工科復(fù)合型高技術(shù)人才知識學(xué)習(xí)和能力培養(yǎng)的教學(xué)訴求編寫的。全書共7章，第1章介紹功能材料的特點、分類及器件發(fā)展歷程。第2~7章介紹以二次功能材料為基礎(chǔ)的典型器件，包

本研究報告將主要圍繞以下內(nèi)容開展研究：1）分析實用化高溫超導(dǎo)材料的發(fā)展與技術(shù)現(xiàn)狀。采用文獻調(diào)研與現(xiàn)場調(diào)研的方式，在收集整理相關(guān)的信息和數(shù)據(jù)的基礎(chǔ)上，對國內(nèi)幾個主要高溫超導(dǎo)材料生產(chǎn)廠家進行走訪調(diào)研，適時邀請國外主要高溫超導(dǎo)帶材生產(chǎn)廠家來訪或者進行線上交流。得到最Z新的高溫超導(dǎo)材料性能信息和未來發(fā)展判斷，服務(wù)于最Z終超導(dǎo)電

航天器運行所處的宇宙空間環(huán)境中存在大量射線粒子，這些粒子會在航天器電子器件中產(chǎn)生空間輻射效應(yīng)，導(dǎo)致電子系統(tǒng)性能下降、狀態(tài)改變，甚至功能失效，影響航天器使用壽命及在軌可靠運行。航天器功能和性能要求越來越高，高可靠性、高集成度、高性能、低功耗納米電子器件的空間應(yīng)用前景廣闊。納米器件趨于物理極限的材料、工藝和結(jié)構(gòu)特點對空間輻

書中重點聚焦于固體中電子輸運過程的仿真方法、二次電子發(fā)射特性仿真分析及其應(yīng)用三個部分。首先主要介紹了電子散射截面計算方法、隨機數(shù)、最小值、蒙特卡羅仿真策略等；然后在二次電子發(fā)射特性仿真分析重點討論了背散射系數(shù)、二次電子發(fā)射系數(shù)、二次電子能譜的計算結(jié)果；最后討論了仿真方法在SEM中線寬測量、能量選擇掃描電子摻雜襯度計算以

本書內(nèi)容涵蓋各類基于新型材料和結(jié)構(gòu)的光電子器件，采用超構(gòu)材料、電光材料、磁光材料、熱光材料及二維材料設(shè)計和制備了包括調(diào)制器、光開關(guān)、濾波器、傳感器、光場調(diào)控器件在內(nèi)的光電子器件。這些光電子器件的提出拓展了一些嶄新物理現(xiàn)象的應(yīng)用領(lǐng)域，如光自旋霍爾效應(yīng)、磁光古斯·鄄漢森效應(yīng)等。

本書系統(tǒng)介紹與超導(dǎo)科學(xué)與技術(shù)相關(guān)的基礎(chǔ)知識。主要內(nèi)容包括超導(dǎo)現(xiàn)象發(fā)現(xiàn)的時間及時代背景，零電阻、完全抗磁性及約瑟夫森效應(yīng)等超導(dǎo)體的基本物理性質(zhì)；經(jīng)典超導(dǎo)理論(如兩流體模型、倫敦理論和金茲堡-朗道理論、BCS理論)的物理性質(zhì)及其促進超導(dǎo)科學(xué)發(fā)展的意義；超導(dǎo)體的主要特征參數(shù)及其測量方法，以及超導(dǎo)磁體、超導(dǎo)電力、超導(dǎo)量子干涉器

本書是按照普通高等院校電工電子技術(shù)課程教學(xué)基本要求并結(jié)合多年實踐性教學(xué)環(huán)節(jié)改革經(jīng)驗，針對培養(yǎng)學(xué)生實踐能力和創(chuàng)新能力的教學(xué)目的而編寫的。全書共分三篇：第d一篇為電路CAD實習(xí)，是為配合電路理論課程而開設(shè)的實習(xí)。通過電路CAD實習(xí)，使學(xué)生能夠?qū)λ�掌握的電路基本理論和基本知識加以驗證，能夠根據(jù)設(shè)計要求獨立完成電路的設(shè)計、分析

本書以白光半導(dǎo)體（LED）照明用三基色熒光粉開發(fā)為出發(fā)點，重點介紹了近紫外光（395nm）LED芯片及藍光（460nm）LED芯片用稀土離子（Eu3+,Tb3+,Eu2+等）激活的無機熒光粉（鉬酸鹽、鎢酸鹽、硅酸鹽熒光粉等）、β-二酮有機配合物熒光粉以及過渡金屬離子Mn4+激活的氟化物紅色熒光粉的研究現(xiàn)狀。內(nèi)容主要涉及

本書介紹了電磁防護仿生研究在仿生自修復(fù)技術(shù)方面取得的有益嘗試和階段性成果：演化硬件理論與技術(shù)、數(shù)字電路演化設(shè)計方法、可演化電子系統(tǒng)平臺與自修復(fù)方法，以及典型應(yīng)用試驗結(jié)果。

本書結(jié)合作者多年工程實踐經(jīng)驗，涵蓋電子系統(tǒng)可靠性論證、可靠性管理、可靠性設(shè)計與分析、可靠性試驗與評價、使用可靠性改進等方面內(nèi)容，融合了作者在復(fù)雜系統(tǒng)可靠性建模與協(xié)同設(shè)計、可靠性仿真、可靠性強化和加速增長試驗、高加速應(yīng)力篩選、加速壽命試驗、大型系統(tǒng)多源數(shù)據(jù)融合可靠性綜合評價、健康管理等方面研究成果。為可靠性工程技術(shù)和管理