本書(shū)主要涉及在納米工藝下較為嚴(yán)重的晶體管老化效應(yīng)——負(fù)偏置溫度不穩(wěn)定性和制造過(guò)程中引起的參數(shù)偏差。介紹了參數(shù)偏差效應(yīng)產(chǎn)生的物理機(jī)制及對(duì)電路服役期可靠性的影響，并提出了從電路級(jí)到系統(tǒng)級(jí)的相應(yīng)的分析、預(yù)測(cè)和優(yōu)化方法。

本書(shū)根據(jù)電子CAD課程實(shí)踐性比較強(qiáng)的特點(diǎn)，采用理論與實(shí)踐相結(jié)合的教學(xué)方法，每章以完成一個(gè)典型電路的電路圖設(shè)計(jì)任務(wù)為主線，把相關(guān)知識(shí)點(diǎn)融入完成該任務(wù)的整個(gè)過(guò)程中，從而體現(xiàn)工學(xué)結(jié)合的職業(yè)教學(xué)特色。本書(shū)共12章，主要內(nèi)容包括Protel99SE與AltiumDesigner軟件的對(duì)比、認(rèn)識(shí)AltiumDesigner設(shè)計(jì)環(huán)境

本書(shū)針對(duì)大規(guī)模MIMO檢測(cè)算法VLSI架構(gòu)設(shè)計(jì)進(jìn)行討論（包括專用集成電路設(shè)計(jì)和動(dòng)態(tài)可重構(gòu)設(shè)計(jì)）。本書(shū)主要分析了典型大規(guī)模MIMO檢測(cè)線性算法設(shè)計(jì)及專用集成電路設(shè)計(jì)；典型大規(guī)模MIMO檢測(cè)非線性算法設(shè)計(jì)及專用集成電路設(shè)計(jì)；多類型大規(guī)模MIMO檢測(cè)算法分析及共性提�。粍�(dòng)態(tài)重構(gòu)處理器硬件架構(gòu)設(shè)計(jì)；動(dòng)態(tài)重構(gòu)編譯方法設(shè)計(jì)。

Altium Designer 18中文版電路設(shè)計(jì)標(biāo)準(zhǔn)實(shí)例教程

在自然界中，人們能感受到的信號(hào)都是模擬量，如聲音、風(fēng)力、振動(dòng)等。隨著21世紀(jì)信息社會(huì)的到來(lái)，人們要對(duì)模擬信號(hào)進(jìn)行精細(xì)化的數(shù)字處理。模數(shù)轉(zhuǎn)換器承擔(dān)著模擬數(shù)據(jù)獲取與重構(gòu)的重任，也自然成為模擬世界與數(shù)字世界的橋梁。目前，模數(shù)轉(zhuǎn)換器廣泛應(yīng)用于語(yǔ)音處理、醫(yī)療監(jiān)護(hù)、工業(yè)控制及寬帶通信等領(lǐng)域中，是現(xiàn)代電子設(shè)備必不可少的電路模塊。本書(shū)

本書(shū)從密碼算法的基本原理入手，討論了密碼算法的各個(gè)基本模塊和安全設(shè)計(jì)的基本方法，并進(jìn)行了實(shí)際案例分析，兼顧了系統(tǒng)的高效實(shí)現(xiàn)和安全實(shí)現(xiàn)。

《綜合電子與PCB設(shè)計(jì)完全學(xué)習(xí)手冊(cè)》采用查字典的方式全面介紹了EDA軟件中使用廣泛的兩款電路板設(shè)計(jì)軟件protel99SE和AltiumDesigner的使用方法，詳細(xì)介紹了原理圖設(shè)計(jì)，元件制作、PCB元件的布局，布線及電路設(shè)計(jì)的仿真等；此書(shū)稿范例性地列舉了多個(gè)綜合型實(shí)踐性案例的軟件操作方法；設(shè)置了多個(gè)遞進(jìn)式的實(shí)訓(xùn)練習(xí)

全書(shū)以PADSVX.2.2為平臺(tái)，介紹了電路設(shè)計(jì)的方法和技巧。全書(shū)共18章，第1章為緒論；第2章介紹PADSVX.2.2的安裝；第3章介紹PADSVX.2.2的圖形用戶界面PADSLogicVX.2.2；第4章介紹PADSLogicVX.2.2原理圖設(shè)計(jì)；第5章介紹原理圖高級(jí)編輯；第6章介紹PADSLogicVX.2.

本書(shū)主要介紹了數(shù)字集成電路的設(shè)計(jì)理論與實(shí)踐方法，通過(guò)一個(gè)完整的CPU電路RTL級(jí)驗(yàn)證、綜合及版圖設(shè)計(jì)，讓讀者系統(tǒng)、全面地了解ASIC設(shè)計(jì)流程。本書(shū)主要內(nèi)容包括：ASIC設(shè)計(jì)方法概述、設(shè)計(jì)流程及各階段用到的設(shè)計(jì)仿真工具；VerilogHDL基礎(chǔ)語(yǔ)法及測(cè)試程序建模方法概述；ASIC設(shè)計(jì)實(shí)驗(yàn)環(huán)境搭建；CPU基本原理、相關(guān)指令

本書(shū)介紹了集成電路設(shè)計(jì)的相關(guān)知識(shí)和主要EDA工具的使用方法，即從晶體管的模型開(kāi)始擴(kuò)展至集成電路設(shè)計(jì)中的相關(guān)知識(shí)，同時(shí)對(duì)集成電路的主要EDA廠商及其主流工具進(jìn)行了介紹。其中，在模擬集成電路EDA工具部分，結(jié)合原理圖編輯、模擬電路各種功能仿真、版圖設(shè)計(jì)以及驗(yàn)證等各個(gè)流程，介紹了電路設(shè)計(jì)及仿真工具CadenceSpectre